四、紅外線檢測(cè)器
紅外線檢測(cè)器是氣體分析儀的關(guān)鍵部件，通過(guò)紅外線輻射把光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，正常工作情況下應(yīng)保證環(huán)境溫度穩(wěn)定，避免干擾信號(hào)。易出現(xiàn)的情況是：
（1）器件老化靈敏度低，輸出信號(hào)噪聲大。
（2）器件損壞無(wú)輸出信號(hào)。
（3）器件焊點(diǎn)氧化、虛焊接觸不良，輸出信號(hào)不穩(wěn)定。
五、紅外光源
紅外光源發(fā)射的紅外輻射與光輻射功率成正比。光輻射功率變化直接影響到信號(hào)輸出大小的變化，這樣的變化將引起檢測(cè)器基線的變化，即紅外輻射有無(wú)或大小，檢測(cè)器基線將隨之反映出來(lái)。引起紅外光源輻射信號(hào)變化的原因有以下幾種：
（1）光源逐漸老化，光輻射減弱，信號(hào)輸出低。碳和硫檢測(cè)器的基線輸出值也會(huì)逐漸降低，當(dāng)?shù)陀谡７秶鷷r(shí)儀器將報(bào)警。
（2）光源加熱絲斷裂或脫焊，無(wú)信號(hào)輸出。測(cè)量光源加熱絲電阻值是否正確（正確值一般為5Q左右）。
（3）光源加熱絲虛焊及電源插頭氧化導(dǎo)致接觸不良。由于接觸電阻發(fā)生變化，信號(hào)輸出忽高忽低變化值特別大，這種情況往往被人們忽視。
六、A／D轉(zhuǎn)換板
電壓信號(hào)通過(guò)16轉(zhuǎn)1芯片進(jìn)行信號(hào)采集，再經(jīng)A／D芯片轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)并送人計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理，這個(gè)過(guò)程易產(chǎn)生干擾信號(hào)，導(dǎo)致系統(tǒng)監(jiān)視窗口觀察工作條件、樣品檢測(cè)積分過(guò)程及計(jì)算受到影響，主要原因是：
（1）儀器接地不好，外界干擾信號(hào)，導(dǎo)致采集數(shù)據(jù)遺漏。
（2）A／D轉(zhuǎn)換板的器件老化質(zhì)量下降，造成干擾信號(hào)增加，數(shù)字信號(hào)紊亂。
（3）A／D轉(zhuǎn)換板與總線插槽接觸不良，導(dǎo)致采集數(shù)據(jù)丟失。
通過(guò)對(duì)不穩(wěn)定影響因素的分析，對(duì)電子器件老化、性能下降所帶來(lái)的信號(hào)輸出值不穩(wěn)定或無(wú)輸出，紋波大，輸出信號(hào)噪聲大，采集數(shù)據(jù)遺漏或丟失等一系列問(wèn)題的解決及提高設(shè)備的利用率起到重要的作用。
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